回折スペックル装置　

回折ブラッグ配置での単結晶試料のコヒーレントスペックル実験、および透過配置での非結晶性試料のコヒーレント散乱イメージング実験、もしくはフーリエ変換ホログラフィー実験に用いられる。X線移相子によって得られる様々な偏光状態のXFEL光を利用することで、磁気的効果の検出、あるいは異方性の解析が可能である。また、本装置は高真空仕様であるので、将来軟X線FELのビームラインが整備された時点で、ただちに軟X線による磁気ホログラフィーやコヒーレントイメージング実験にも対応可能である。

共用化予定時期