コヒーレント回折・散乱イメージング装置

本装置は、回折顕微法やホログラフィーなどのコヒーレント光イメージング手法を用いて、ナノ材料や生体試料の観察・構造決定を行うことを目的としている。コヒーレント前方散乱を用いることにより試料の電子密度分布が得られる。また、Bragg反射配置でのコヒーレント散乱により、ひずみ場分布のイメージングが行える。本装置は、前方散乱配置とBragg散乱配置の両方に対応しているのが特徴である。
また、超短パルス自由電子レーザーを利用することにより、フェムト秒の時間分解能をもつダイナミクス観察が行える。

共用化予定時期

2012年度

本装置は文部科学省 「X線自由電子レーザー利用推進研究課題」、「SACLA利用装置提案課題」によって、整備が進められています。